多功能型 Fiedler®1000粗糙度形狀測量儀
一、產品概述
Fiedler®1000粗糙度形狀測量儀是一款完全符合*新ISO國際標準的產品，是評定零件表面質量的多用途便攜式儀器，具有符合多個國家標準和國際標準的多個參數，可對多種零件表面的粗糙度、波紋度和原始輪廓進行多參數評定，可測量平面、外圓柱面、內孔表面及軸承滾道等。該表面粗糙度儀具有測量范圍大、性能穩(wěn)定、精度高等特點，適用于生產現(xiàn)場、科研實驗室和企業(yè)計量室。根據選定的測量條件計算相應的參數，測量結果可以數字和圖形方顯示在液晶顯示器上，也可以輸出到打印機上。便攜式粗糙度儀還可以連接電腦，電腦專用分析軟件可直接控制測量操作并提供強大的上等分析功能。
本儀器是在濾波輪廓和直接輪廓兩種輪廓上進行參數計算的，全部計算符合GB/T 3505-2009 《產品幾何技術規(guī)范(GPS)、表面結構、輪廓法、術語、定義及表面結構參數》標準。
二、功能特點
● 便攜式機電一體化設計
● 1000μm超大量程電感傳感器
● 可測量粗糙度、波紋度和原始輪廓參數并顯示支承率曲線、粗糙度圖形，波紋度圖形，包絡波紋度曲線。
● 兼容ISO/1997、DIN/1990、ASME/1995、JIS/1994多個國家標準
● 具有帶導頭、無導頭兩種測量方式
● 可配置Windows平臺上等分析軟件
● 中/英文語言選擇
● 可連接電腦或專用打印機
● 可測量劃痕深度和臺階高度
● 傳感器與主機通過傳感器升降、架連接，無需借助平臺，即可調節(jié)傳感器高度。
三、標準配置
1、 執(zhí)行器 1臺
2、 操作顯示器 1臺
3、 標準電感傳感器 1支
4、 標準粗糙度測針 1支
5、 電源適配器 1個
6、 粗糙度試塊 1個
7、 通信線 1根
8、 說明書 1本
9、 合格證 1份
10、 保修卡 1份
四、可選附件
分析軟件、TA650測量平臺、專用打印機、U型傳感器(7mm)、V型傳感器(7mm變徑)、齒面?zhèn)鞲衅鳎?/span>120°探頭）、小孔傳感器（φ1.33）深槽傳感器（10mm）、超深槽傳感器（20mm）、特深槽傳感器（30mm）、極深槽傳感器（40mm）、定制傳感器。
1. 主要技術指標
型號
Fiedler1000
量程
X方向
50mm
Z方向
±500μm
分辨率
0.0016μm/±50μm -0.016μm/±500μm
驅動器
直線度
0.4μm/50mm
分析項目
對應標準
ISO/1997、DIN/1990、ASME/1995、JIS/1994
參數
粗糙度輪廓
Ra、Rq、Rp、Rv、Rc、Rt、S、R3z、Pc、Rsk、Rku、Ry、Sm、RΔa、RΔq、Rz、Rλa、Rλq、lr、RSm、Rz94、RS、Rz.I、Rpm
波紋度輪廓
WCA、WCC-q、WCC-p、WCC-v、WCC-m、WCC-Sm、WC-q、WC-p、WC-v、WC-t、WC-Sm、Wa、Wq、Wsk、Wku、Wp、Wv、Wz、Wc、Wt、WSm、WΔq
原始輪廓
Rsk、Rku、Rmax、Sm、Δq、Rz、Rz.J、Pa、Pq、Psk、Pku、Pp、Pv、Pc.I、Pt、PSm、PΔq
支承率曲線
Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、V0、K
圖形
NCRX、R、Rx、AR、NR、CPM、SR、SAR、W、Wx、AW、Wte、NW、SW、SAW
評價曲線
粗糙度輪廓、波紋度輪廓、原始輪廓、支承率曲線、粗糙度圖形，波紋度圖形，包絡波紋度曲線
特征曲線
濾波
濾波器
Gaussian、FFT、PC、DP、2RC
濾止波
λs：0.25、0.8、2.5、8、25、80μm λc ：0.25、0.8、2.5、8mm λf：25mm
評定長度
n * λc（n：1 ~ 9）
測量速度
0.1mm/s、0.5mm/s、1.0mm/s、1.5mm/s、2.0mm/s
回程速度
傳感器
標準通用型
傳感器方式
差動電感
測針
5μmR金剛石90°
測力
4mN以下
操作器
顯示部分
7寸彩色液晶觸摸屏
數據輸出
SD卡/藍牙連接PC機/PC機打印
對應語言
中文、英文
尺寸及質量
電源/消耗
AC220V±10% 內置充電電池（AC變壓器充電） 充電時間5小時
耗電量
約30VA(充滿電后可以測量400次）
質量
干重3.4Kg 含包裝4.75Kg
設置尺寸
驅動器364（W）*80（D）*145（H） 操作器 212（W）*182（D）*50（H）
包裝尺寸
410mm（W）*340（D）*180（H）
2. 不同國家標準下的參數列表
中文名稱
類型
JIS-94
ISO-97
DIN-90
ASME-95
評定輪廓的算術平均偏差
R
Ra
評定輪廓的均方根偏差
Rq
評定輪廓的偏斜度
Rsk
評定輪廓的陡度
Rku
*大輪廓峰高
Rp
Rpm
*大輪廓谷深
Rv
輪廓*大高度
Ry
Rz
輪廓單元的平均高度
Rc
輪廓總高度
Rt
輪廓單元的平均寬度
Sm
RSm
局部波峰的平均間距
S
RS
評定輪廓的算術平均斜率
RΔa
評定輪廓的均方根斜率
RΔq
不平度的十點高度
Rz94
Rz.I
不平度的三位點高度
R3z
輪廓峰數
Pc
HSC
算術平均波長
Rλa
均方根波長
Rλq
W
WCA
Wa
WC-q
Wq
Wsk
Wku
WC-p
Wp
WC-v
Wv
Wz
Wc
WC-t
Wt
WC-Sm
WSm
WΔq
P
Pa
Pq
Psk
Pku
Pp
Pv
Pc.I
Rmax
Pt
PSm
PΔq
Rz.J
核心粗糙度深度
A
Rk
去除的峰值高度
Rpk
去除的谷值深度
Rvk
支承率1
Mr1
支承率2
Mr2
儲油量
V0
儲油深度率
K
波谷數
M
NCRX
粗糙度圖形的平均間距
AR
粗糙度圖形的平均深度
輪廓微觀不平度的*大深度
Rx
粗糙度圖形個數
NR
平均波谷數
CPM
粗糙度圖形深度的標準偏差
SR
粗糙度圖形長度的標準偏差
SAR
波紋度圖形的平均間距
AW
波紋度圖形的平均深度
波紋度的*大深度
Wx
波紋度的總深度
Wte
波紋度圖形個數
NW
波紋度圖形深度的標準偏差
SW
波紋度圖形長度的標準偏差
SAW
表中：
R：粗糙度輪廓
W：波紋度輪廓
P：原始輪廓
A：支承率曲線
M：圖形
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